गैर विनाशकारी परीक्षण हेतु यूवी लैंप

Thu, 02 Jul 2026 14:37:33 +0800

एनडीटी प्रक्रिया में, गलत रूप से अस्वीकृत होने वाले उत्पादों एवं छूट जाने वाली खामियों का कारण आमतौर पर अस्थिर यूवी विकिरण ही होता है। चरम विकिरण मान में उतार-चढ़ाव होता है; स्पेक्ट्रल आउटपुट में भी बदलाव होता है। ऐसी स्थिति में, प्रति शिफ्ट दस हजारों बार फ्लैश एक्सपोजर देने पर, लैंप का थर्मल व्यवहार कोई महत्वपूर्ण बात नहीं रह जाती… बल्कि यही वह सीमा है जिसके भीतर ही पूरी प्रक्रिया चलती है।

तकनीकी दृष्टि से महत्वपूर्ण बातें
हमने कैथोड को कम थर्मल इनर्शिया वाला बनाया है; इससे आर्क जल्दी ही स्थिर हो जाता है, एवं फ्लैशों के बीच एनवेलपमेंट का तापमान ज्यादा नहीं बदलता। इससे एकसमान आउटपुट प्राप्त होता है – 365 नैनोमीटर तरंगदैर्घ्य पर स्पेक्ट्रल पीक, 100,000+ फ्लैशों के दौरान ±2% की सीमा में स्थिर रहता है; एवं कार्य सतह पर चरम विकिरण मान ≥12 वाट/सेमी² होता है। प्रत्येक फ्लैश में 0.3–0.6 सेकंड में ≥800 मिलीजूल/सेमी² ऊर्जा प्राप्त होती है… जो फोटोइनिशिएटर को क्रॉस-लिंक करने हेतु पर्याप्त है, बिना सब्सट्रेट को नुकसान पहुँचाए।
क्वार्ट्ज शरीर में ओजोन नहीं होता; रिफ्लेक्टर में ऐसी डाइक्रोइक कोटिंग है जो 365 नैनोमीटर तरंगदैर्घ्य पर ≥85% रिफ्लेक्टेंस देती है। इससे अधिकतर ऊर्जा सीधे उत्पाद पर ही जाती है, बजाय अपव्यय होने के।

दीपक परीक्षण के लिए यूवी तीव्रता मीटर

Thu, 04 Jun 2026 06:01:58 +0800

प्रेस मशीन पर, एक UV लैंप जो स्ट्राइक नहीं करता, केवल डाउनटाइम नहीं है। यह स्क्रैप, रीवर्क, और मूल कारण खोजने के लिए एक घबराहट भरा प्रयास है। ट्रिगर और लैंप एक मेल खाते सिस्टम होते हैं। यदि ओपन-सर्किट वोल्टेज, लीड इम्पीडेंस, और इग्नाइटर एनर्जी प्रोफाइल मेल नहीं खाते, तो आर्क अस्थिर हो जाता है। परिणामस्वरूप 365nm, 385nm, या 405nm पर कमजोर स्पेक्ट्रल आउटपुट होता है।

यह नीचे पंक्तिबद्ध समस्याओं के रूप में प्रकट होता है: अधूरा क्योर हुआ इंक ट्रांसफर, कमजोर चिपकन, और क्योर विंडो का बार-बार स्थगित होना।

परीक्षण on UV Curing Global

गैर विनाशकारी परीक्षण हेतु यूवी लैंप

दीपक परीक्षण के लिए यूवी तीव्रता मीटर